一：
集成電路測(cè)試測(cè)試要素技術(shù)百科
問(wèn)題1：集成電路怎么測(cè)試好壞啊?
答：集成電路好壞精確判斷好壞只能是在路工作正?；蛱鎿Q法，大概判斷好壞有工作狀態(tài)電壓比較法和非工作狀態(tài)的電阻比較法，數(shù)據(jù)參考可查有關(guān)資料，網(wǎng)上許多塊子搜到這樣的資料。
問(wèn)題2：集成電路測(cè)試員的工作內(nèi)容
答：（1）運(yùn)用自動(dòng)測(cè)試探針臺(tái)等設(shè)備完成晶圓測(cè)試操作;（2）操作自動(dòng)測(cè)試、自動(dòng)分選設(shè)備進(jìn)行成品測(cè)試操作;（3）進(jìn)行可靠性試驗(yàn)；（4）編寫(xiě)測(cè)試報(bào)告，分析測(cè)試結(jié)果；（5）與芯片設(shè)計(jì)、芯片制造、芯片封裝等部門(mén)進(jìn)行技術(shù)溝通。
問(wèn)題3：集成電路封裝測(cè)試是什么意思
答：封裝過(guò)程是:來(lái)自晶圓前驅(qū)工藝的晶圓在劃片工藝后被切割成小晶圓，然后將切割后的晶圓用膠水貼在對(duì)應(yīng)基板(引線框架)的島上，再用超細(xì)金屬(金、錫、銅、鋁)線或?qū)щ姌?shù)脂將晶圓的焊盤(pán)連接到基板的對(duì)應(yīng)引腳上，形成所需電路；。
問(wèn)題4：IR2155集成電路如何用萬(wàn)用表測(cè)試性能
答：其次，用萬(wàn)用表測(cè)試集成電路，一般只能是小型IC，如厚膜、DIP、PCDIP、SOP等封裝的，如果是大規(guī)模的數(shù)字集成電路，如PGA、BGA等封裝的，用萬(wàn)用表是勝任不了的；再次，如果是對(duì)靜電敏感的IC，最好不要在無(wú)靜電防護(hù)措施的。
問(wèn)題5：如何入職集成電路可靠性測(cè)試
答：如何入職集成電路可靠性測(cè)試：1了解常用集成電路測(cè)試設(shè)備、工具和材料；2具有集成電路測(cè)試的專(zhuān)業(yè)基礎(chǔ)知識(shí)；3能讀懂簡(jiǎn)單的局部的測(cè)試子程序；4能解讀中大規(guī)模數(shù)字電路和數(shù)?；旌想娐返臏y(cè)試方案；5有中高檔集成電路自動(dòng)測(cè)試。
問(wèn)題6：集成電路測(cè)試儀的主要功能,麻煩高手來(lái)指點(diǎn)一下
答：集成電路測(cè)試儀的主要功能是測(cè)試集成電路的電參數(shù)，有的是測(cè)試數(shù)字集成電路的，可能包括真值表的驗(yàn)證；有的是測(cè)試模擬集成電路的。通常對(duì)應(yīng)不同的品種，有不同的參數(shù)要求，因此有不同的測(cè)試程序，這用計(jì)算機(jī)來(lái)完成是比較好的。
問(wèn)題7：集成電路運(yùn)放芯片如何測(cè)試性能?
集成電路測(cè)試測(cè)試要素答：工業(yè)量產(chǎn)測(cè)試嗎？你具體使用的測(cè)試機(jī)是？每個(gè)測(cè)試機(jī)的供應(yīng)商會(huì)提供給你他們制作的運(yùn)放測(cè)試板的，因?yàn)檫\(yùn)放芯片有國(guó)標(biāo)即具體規(guī)定了測(cè)試哪些項(xiàng)目比如你提到的這兩個(gè)，以及這些項(xiàng)目的具體性能要求，所以外圍電路基本也是固定的。原理。
問(wèn)題8：什么決定芯片的功能?
答：從而在晶圓基片上形成電路，集成電路封裝是保護(hù)芯片免受物理、化學(xué)等環(huán)境因素造成的損傷，增強(qiáng)芯片的散熱性能，實(shí)現(xiàn)電氣連接，確保電路正常工作，集成電路測(cè)試主要是對(duì)芯片產(chǎn)品的功能和性能進(jìn)行測(cè)試。
問(wèn)題9：jc-3166集成電路測(cè)試系統(tǒng)工作原理?
集成電路測(cè)試測(cè)試要素答：一：封裝與引腳功能該電路采用8引線雙列直插封裝，8YF386為我國(guó)774廠產(chǎn)品，LM386為美國(guó)國(guó)家半導(dǎo)體公司產(chǎn)品。二：性能特點(diǎn)該集成電路由于外接元件少、電源電壓VCC使用范圍寬（VCC=4-12V）、靜態(tài)功耗低（VCC=6V時(shí)。
問(wèn)題10：三端穩(wěn)壓集成電路怎么測(cè)試好壞
集成電路測(cè)試測(cè)試要素答：使用標(biāo)準(zhǔn)的連接方法連接好，加上比集成電路標(biāo)稱(chēng)電壓高3V以上低于36V的直流電壓，測(cè)量輸出端的電壓，在標(biāo)稱(chēng)值加上正負(fù)01V的都是好的，不滿足這個(gè)條件的都是壞的。
二：
集成電路測(cè)試測(cè)試要素技術(shù)資料
問(wèn)題1：IR2155集成電路如何用萬(wàn)用表測(cè)試性能
答：其次，用萬(wàn)用表測(cè)試集成電路，一般只能是小型IC，如厚膜、DIP、PCDIP、SOP等封裝的，如果是大規(guī)模的數(shù)字集成電路，如PGA、BGA等封裝的，用萬(wàn)用表是勝任不了的；再次，如果是對(duì)靜電敏感的IC，最好不要在無(wú)靜電防護(hù)措施的。
問(wèn)題2：jc-3166集成電路測(cè)試系統(tǒng)工作原理?
答：一：封裝與引腳功能該電路采用8引線雙列直插封裝，8YF386為我國(guó)774廠產(chǎn)品，LM386為美國(guó)國(guó)家半導(dǎo)體公司產(chǎn)品。二：性能特點(diǎn)該集成電路由于外接元件少、電源電壓VCC使用范圍寬（VCC=4-12V）、靜態(tài)功耗低（VCC=6V時(shí)。
問(wèn)題3：集成芯片怎么測(cè)量
集成電路測(cè)試測(cè)試要素答：你所說(shuō)的集成芯片應(yīng)該是指集成電路吧，種類(lèi)太多了，不能一概而論。早期的CD4000系列和74系列以及相同功能的后續(xù)型號(hào)是可以用通用的數(shù)字集成電路測(cè)試儀測(cè)的。通用性較強(qiáng)的運(yùn)算放大器如741和324一類(lèi)還可以用線性集成電路測(cè)試儀。
問(wèn)題4：三端穩(wěn)壓集成電路怎么測(cè)試好壞
集成電路測(cè)試測(cè)試要素答：使用標(biāo)準(zhǔn)的連接方法連接好，加上比集成電路標(biāo)稱(chēng)電壓高3V以上低于36V的直流電壓，測(cè)量輸出端的電壓，在標(biāo)稱(chēng)值加上正負(fù)01V的都是好的，不滿足這個(gè)條件的都是壞的。
問(wèn)題5：D15SB80集成電路引腳測(cè)試(是否被擊穿)
答：這是一塊15安800伏的整流橋堆。由“2-3：3-、2+無(wú)限小，3+、2-無(wú)限大”得知，已經(jīng)壞了。（2、3兩腳是交流電輸入端，正常時(shí)不論如何測(cè)量，都是無(wú)限大）。
問(wèn)題6：電路板測(cè)試需要學(xué)些什么?
集成電路測(cè)試測(cè)試要素答：集成電路測(cè)試-麻省理工大學(xué)課件(1)2006-3-9ICpackaging(集成電路封裝)-麻省理工大學(xué)課件(1)2006-3-9ICdesign-麻省理工大學(xué)課件(6)2006-3-9ICdesign-麻省理工大學(xué)課件(5)2006-3-9ICdesign。
問(wèn)題7：集成芯片怎么測(cè)量
答：你所說(shuō)的集成芯片應(yīng)該是指集成電路吧，種類(lèi)太多了，不能一概而論。早期的CD4000系列和74系列以及相同功能的后續(xù)型號(hào)是可以用通用的數(shù)字集成電路測(cè)試儀測(cè)的。通用性較強(qiáng)的運(yùn)算放大器如741和324一類(lèi)還可以用線性集成電路測(cè)試儀。
問(wèn)題8：如果想往集成電路封裝與測(cè)試發(fā)展應(yīng)該特別注意哪些方面的知識(shí)呢?_百
答：與設(shè)計(jì)類(lèi)沒(méi)什么相關(guān)吧！設(shè)計(jì)上需要知道些電路和制程方面的知識(shí)，而封裝和測(cè)試需要的是工藝方面的，要求還是蠻高的。國(guó)內(nèi)廠家和國(guó)外沒(méi)法比的，建議去美資或者臺(tái)資（比較BT），但是他們的技術(shù)都是一級(jí)的。
問(wèn)題9：芯片的可靠性測(cè)試
集成電路測(cè)試測(cè)試要素答：【嵌牛正文】芯片的好壞，主要是由市場(chǎng)，性能和可靠性三要素決定的。首先，在芯片的開(kāi)發(fā)前期，需要對(duì)市場(chǎng)進(jìn)行充分調(diào)研，才能定義出符合客戶需求的SPEC；其次是性能，IC設(shè)計(jì)工程師設(shè)計(jì)出來(lái)的電路需要通過(guò)designer仿真，DFT電路驗(yàn)證。
問(wèn)題10：集成電路測(cè)試儀的主要功能,麻煩高手來(lái)指點(diǎn)一下
答：集成電路測(cè)試儀的主要功能是測(cè)試集成電路的電參數(shù)，有的是測(cè)試數(shù)字集成電路的，可能包括真值表的驗(yàn)證；有的是測(cè)試模擬集成電路的。通常對(duì)應(yīng)不同的品種，有不同的參數(shù)要求，因此有不同的測(cè)試程序，這用計(jì)算機(jī)來(lái)完成是比較好的。
三 ：