一：
集成電路測(cè)試的技術(shù)百科
問(wèn)題1：集成電路有哪些直流參數(shù)測(cè)試方法
答：5輸出短路電路IOS測(cè)試（outputshortcircuitcurrenttest)輸出短路電流（IOS），顧名思義，就是輸出端口處于短路狀態(tài)時(shí)的電流。6輸出高阻電流（IOZH/IOZL）IOZL指的是一個(gè)低電平施加在一個(gè)處于高阻態(tài)的輸出管腳上。
問(wèn)題2：集成電路的檢測(cè)都會(huì)使用到哪些檢測(cè)設(shè)備?
集成電路測(cè)試的答：由于packagetest無(wú)法使用探針測(cè)試芯片內(nèi)部，因此其測(cè)試范圍受到限制，有很多指標(biāo)無(wú)法在這一環(huán)節(jié)進(jìn)行測(cè)試。但packagetest是最終產(chǎn)品的檢測(cè)，因此其檢測(cè)合格即為最終合格產(chǎn)品。IC的測(cè)試是一個(gè)相當(dāng)復(fù)雜的系統(tǒng)工程，無(wú)法簡(jiǎn)單地告訴你。
問(wèn)題3：集成電路測(cè)試員的職業(yè)簡(jiǎn)介
答：能利用自動(dòng)測(cè)試探針臺(tái)、自動(dòng)分選機(jī)（機(jī)械手）、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）和其他相關(guān)儀器設(shè)備，從事集成電路各種測(cè)試。1了解常用集成電路測(cè)試設(shè)備、工具和材料；2具有集成電路測(cè)試的專(zhuān)業(yè)基礎(chǔ)知識(shí)；3能讀懂簡(jiǎn)單的局部的測(cè)試子程序。
問(wèn)題4：檢測(cè)集成電路是否損壞可采用哪些方法
集成電路測(cè)試的答：現(xiàn)在的電子產(chǎn)品往往由于一塊集成電路損壞，導(dǎo)致一部分或幾個(gè)部分不能常工作，影響設(shè)備的正常使用。那么如何檢測(cè)集成電路的好壞呢?通常一臺(tái)設(shè)備里面有許多個(gè)集成電路，當(dāng)拿到一部有故障的集成電路的設(shè)備時(shí)，首先要根據(jù)故障現(xiàn)象。
問(wèn)題5：集成電路測(cè)試員的職業(yè)前景
答：隨著科技進(jìn)步和技術(shù)創(chuàng)新，集成電路產(chǎn)業(yè)已成為現(xiàn)代制造業(yè)的重要組成部分，推動(dòng)著國(guó)民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展。在我國(guó)，早期的測(cè)試只是作為IC生產(chǎn)中的一個(gè)工序存在，測(cè)試產(chǎn)業(yè)的概念尚未形成。隨著人們對(duì)集成電路品質(zhì)的重視，集成電路測(cè)試業(yè)目前正。
問(wèn)題6：專(zhuān)業(yè)從事集成電路測(cè)試的公司都有哪些?哪些是優(yōu)勢(shì)公司?
答：本人曾經(jīng)有軍工單位聯(lián)系我，幫他們代做過(guò)元器件的DPA破壞性測(cè)試和失效分析。一般都找航天單位去做元器件集成電路檢測(cè)的如：航天一院的701所航天二院的201所航天五院的551所還有航天航空大學(xué)元器件檢測(cè)中心西安的771所。
問(wèn)題7：半導(dǎo)體集成電路測(cè)試有什么注意事項(xiàng)
答：1管腳定義,不要將管腳接錯(cuò)2確保外圍應(yīng)用電路連接正確,元器件焊接正確,無(wú)虛斷虛焊現(xiàn)象3測(cè)試中工作電壓、電流不能超過(guò)工藝及電路設(shè)計(jì)值還有一些零碎的細(xì)節(jié)需要自己注意,根據(jù)不同的芯片來(lái)確定。
問(wèn)題8：如何用萬(wàn)用表測(cè)量數(shù)字集成電路的好壞
答：一、檢測(cè)原理和一般方法1檢測(cè)非在路集成電路本身好壞的準(zhǔn)確方法非在路集成電路是指與實(shí)際電路完全脫開(kāi)的集成電路。按照廠(chǎng)家給定的測(cè)試電路、測(cè)試條件，逐項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，在大多數(shù)情況下既不現(xiàn)實(shí)，也往往是不必要的。在家電修。
問(wèn)題9：集成電路測(cè)試儀的發(fā)展過(guò)程
集成電路測(cè)試的答：集成電路測(cè)試儀的發(fā)展過(guò)程可以粗略地分為四個(gè)時(shí)代。第一代始于1965年，測(cè)試對(duì)象是小規(guī)模集成電路，可測(cè)管腳數(shù)達(dá)16只。用導(dǎo)線(xiàn)連接、撥動(dòng)開(kāi)關(guān)、按鈕插件、數(shù)字開(kāi)關(guān)或二極管矩陣等方法，編制自動(dòng)測(cè)試序列，僅僅測(cè)量IC外部管腳的。
問(wèn)題10：半導(dǎo)體集成電路測(cè)試有什么注意事項(xiàng)
集成電路測(cè)試的答：1管腳定義，不要將管腳接錯(cuò)。2確保外圍應(yīng)用電路連接正確，元器件焊接正確，無(wú)虛斷虛焊現(xiàn)象。3測(cè)試中工作電壓、電流不能超過(guò)工藝及電路設(shè)計(jì)值。還有一些零碎的細(xì)節(jié)需要自己注意，根據(jù)不同的芯片來(lái)確定。
二：
集成電路測(cè)試的技術(shù)資料
問(wèn)題1：數(shù)字集成電路測(cè)試中的直流參數(shù)測(cè)試項(xiàng)目包括哪些
集成電路測(cè)試的答：5輸出短路電路IOS測(cè)試（outputshortcircuitcurrenttest)輸出短路電流（IOS），顧名思義，就是輸出端口處于短路狀態(tài)時(shí)的電流。6輸出高阻電流（IOZH/IOZL）IOZL指的是一個(gè)低電平施加在一個(gè)處于高阻態(tài)的輸出管腳上。
問(wèn)題2：測(cè)量集成電路引腳直電壓時(shí)怎么使用萬(wàn)用表呢?
答：1檢測(cè)非在路集成電路本身好壞的準(zhǔn)確方法：非在路集成電路是指與實(shí)際電路完全脫開(kāi)的集成電路。按照廠(chǎng)家給定的測(cè)試電路、測(cè)試條件，逐項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，在大多數(shù)情況下既不現(xiàn)實(shí)，也往往是不必要的。在家電修理或一般性電子制作過(guò)程中。
問(wèn)題3：中國(guó)最大效益最好集成電路封裝測(cè)試企業(yè)有那些
答：1智瑞達(dá)科技（蘇州）有限公司2飛思卡爾半導(dǎo)體（中國(guó)）有限公司3上海松下半導(dǎo)體有限公司4深圳賽意法微電子有限公司5英飛凌科技（無(wú)錫）有限公司6威訊聯(lián)合半導(dǎo)體（北京）有限公司7江蘇長(zhǎng)電科技股份有限公司8三。
問(wèn)題4：宇芯(成都)集成電路封裝測(cè)試有限公司
集成電路測(cè)試的答：宇芯（成都）集成電路封裝測(cè)試有限公司友尼森（UNISEM）公司（wwwunisemcommy）成立于1989年，馬來(lái)西亞第二大半導(dǎo)體封裝測(cè)試公司，1992年開(kāi)始從事獨(dú)立的IC封裝和測(cè)試，目前為客戶(hù)提供晶圓測(cè)試、IC封裝與測(cè)試及相關(guān)輔助服務(wù)。
問(wèn)題5：集成電路怎么檢查
答：對(duì)于模擬集成電路要根據(jù)電路構(gòu)成性質(zhì)用萬(wàn)用表或示波器來(lái)檢測(cè)輸入輸出電壓狀態(tài)或波形，對(duì)于數(shù)字集成電路也要根據(jù)其電路構(gòu)成邏輯用萬(wàn)用表或示波器或邏輯筆檢測(cè)輸入輸出電平狀態(tài)來(lái)判定電路工作情況。
問(wèn)題6：電路板上芯片壞了怎么用萬(wàn)用表測(cè)量
答：萬(wàn)能表無(wú)法測(cè)量芯片的質(zhì)量。集成電路測(cè)芯片的質(zhì)量：檢查電源：用萬(wàn)用表直接測(cè)量VCC和GND電平，以滿(mǎn)足要求。如果VCC與5V或33V的偏差過(guò)大，請(qǐng)檢查7805或其他穩(wěn)壓器和濾波器電路的輸出。檢查晶體振蕩器：您可以更改晶體數(shù)量以。
問(wèn)題7：集成電路測(cè)試儀的集成電路測(cè)試儀組成
答：集成電路測(cè)試儀的整體結(jié)構(gòu)如圖所示：整個(gè)系統(tǒng)機(jī)械上采用插槽式結(jié)構(gòu)，所有系統(tǒng)板都通過(guò)系統(tǒng)插槽插到機(jī)箱背板上，機(jī)箱背板上的系統(tǒng)內(nèi)總線(xiàn)通過(guò)PCI接口板與計(jì)算機(jī)PCI總線(xiàn)相連。機(jī)箱背板上共涉及12個(gè)插槽，其中一個(gè)用于插系統(tǒng)控制板。
問(wèn)題8：雙極工藝集成電路能不能測(cè)試iddq
集成電路測(cè)試的答：5輸出短路電路IOS測(cè)試（outputshortcircuitcurrenttest)輸出短路電流（IOS），顧名思義，就是輸出端口處于短路狀態(tài)時(shí)的電流。6輸出高阻電流（IOZH/IOZL）IOZL指的是一個(gè)低電平施加在一個(gè)處于高阻態(tài)的輸出管腳上。
問(wèn)題9：集成電路測(cè)試分幾個(gè)階段
答：這個(gè)問(wèn)題問(wèn)的不清不楚的，怎么回答你呢？你是說(shuō)測(cè)試流程分幾個(gè)階段嘛？一般是接觸測(cè)試（OS測(cè)試），直流項(xiàng)測(cè)試，交流項(xiàng)測(cè)試，沒(méi)了。。
問(wèn)題10：集成電路測(cè)試組合芯片的時(shí)候電源通道怎么接
答：以視訊處理芯片為例，其中的接合復(fù)選墊被連接至電源供應(yīng)端或接地端，可能代表該芯片被設(shè)定為接收不同規(guī)格的視訊信號(hào)。【摘要】集成電路測(cè)試組合芯片的時(shí)候電源通道怎么接【提問(wèn)】背景技術(shù)為了保留集成電路芯片在不同狀況下的運(yùn)用。
三 ：